C-Ray is een geavanceerde capacitieve sensortechnologie ontwikkeld voor precieze diktemeting. We hebben onze interne capacitieve technologie ontwikkeld met een eigen sensorgeometrie. Dit stelt ons in staat om verbeterde kwaliteitscontrole en meetnauwkeurigheid te bieden voor diverse toepassingen.
C-Ray maakt gebruik van robuuste capacitieve technologie met geïntegreerde variabele stand-off compensatie. Dit maakt nauwkeurige diktemetingen mogelijk met een minimale stand-off afstand van ongeveer 4 millimeter (157 mils). C-Ray is ontworpen om dunne films met hoge precisie te meten, zelfs onder uitdagende omstandigheden. Het blinkt uit in het meten van materialen variërend van 20 micrometer tot 4 millimeter (0,78 mils tot 157 mils) in dikte, inclusief zowel ondoorzichtige als niet-ondoorschijnende vellen, films en schuimen.
C-Ray technologie is uitzonderlijk goed geschikt voor dunne-film kunststof extrusielijnen, waar ruimte vaak beperkt is en kostenefficiëntie cruciaal. Het compacte ontwerp en de nauwkeurige meetmogelijkheden maken het een ideale keuze voor in-line kwaliteitscontrole.
