Geweldige tentoonstelling op de INDEX Nonwovens Expo in Genève

We zijn blij teruggekeerd van de internationale INDEX Nonwovens Expo in Genève, Zwitserland. Na onze tentoonstelling in China afgelopen juni, demonstreerden we onze duurzame meet- en machine vision-oplossingen. Bezoekers keken naar verschillende demo's die mooi illustreren hoe wij als one-stop-shop zorgen voor kwalitatieve productie. Het was geweldig om sommigen van jullie weer persoonlijk te zien en jullie specifieke kwaliteitscontroletoepassingen te bespreken.


We hebben met succes deelgenomen aan INDEX, 's werelds toonaangevende nonwovens expo. Onze niet-nucleaire M-Ray gebaseerde QC-oplossingen werden tentoongesteld om fabrikanten te inspireren hoe ze een hogere kwaliteit en lagere kosten kunnen realiseren in hun nonwovens- en textielproductiefaciliteiten.

Bezoekers zagen onze innovatieve oplossingen in actie, die schone en industrieel levensvatbare inline kwaliteitscontrole in de productie demonstreerden. Onze systemen worden gebruikt in een breed scala aan industrieën, waaronder architectuur, automotive, bouw, kleding, gevaarbescherming, luchtvaart en ruimtevaart, geneeskunde, meubels en sport.

Op de stand demonstreerden we ook hoe derden de milieuvriendelijke M-Ray-meettechnologie eenvoudig in hun systemen kunnen integreren. Daarnaast toonden we onze IoT-app, waarmee het mogelijk is om draadloos de M-Ray OEM Module of een andere Hammer-IMS meetmachine te monitoren.

We waren blij wereldwijd met fabrikanten te hebben gesproken over hun specifieke toepassingen en welke oplossingen het meest gunstig voor hen zijn. We spraken ook met potentiële partijen die geïnteresseerd zijn in het integreren van onze meetoplossingen of het distribueren van onze oplossingen in specifieke regio's.


Onlangs ontving Hammer-IMS de VOKA Limburg Exportprijs in België. "We konden geografisch opschalen dankzij onze niet-nucleaire M-Ray gebaseerde systemen voor dikte- en grammagemeting," zegt Noël Deferm, CEO van Hammer-IMS.

Op dit moment breidt Hammer-IMS zijn Marveloc-sensorfamilie uit met digitale C-Ray, U-Ray en L-Ray sensoren om meer complete ervaringen te bieden in textielkwaliteitscontrole. Daarnaast ontwikkelen we ook krachtige vision-technologie met slimme machine learning om aanvullende mogelijkheden toe te voegen. Klik hier om meer te lezen over wat Hammer-IMS onderneemt om het concurrentievoordeel van internationale textiel- en nonwovensfabrikanten te vergroten.